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KH7700 – 石英晶体温度测试系统
型号: KH7700
支持“直接阻抗测量”和“物理负载电容”方法进行FL测量。
自动存储测试数据,打印输出前可重新设定温度极限。
在同一温度运行中可以容纳多种晶体规。
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KH5220CX – 钟振温度测试系统
型号: KH5220CX
测量钟振 — 频率和电流。
支持VCXO线性度测量。
在同一温度运行中可以容纳多种晶体规格。
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KH7220 – 温箱
型号: KH7220
KH7220温箱专为电子元件的轮式或盘式测试夹具而设计。
供用户选择 4″或 8″(7.5L 或 15L Vol)盖。
机械级联制冷系统。
我们的温箱可配合晶体测量系统或钟振测量系统(KH7700和KH5220CX系统)。
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SMD 晶体温度测试碟
型号: SMD_tc_disc
高测试容量(每张碟最多160个)。
接触式探头设计可确保可靠连接。
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温度测试圈
型号: TT_Wheel
用于帶腳晶体或钟振。
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